更新時(shí)間：2024-09-03
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址：
深圳市博納德自主研發(fā)的光斑分析儀是基于高分辨率CCD 和CMOS 面陣型光斑測(cè)量儀，是一款能夠?qū)崟r(shí)測(cè)量連續(xù)或脈沖激光束的實(shí)時(shí)診斷系統(tǒng)。目前包含3個(gè)不同型號(hào)產(chǎn)品，波長范圍覆蓋266~1700nm，像素最小達(dá)到2.5*2.5μm，探測(cè)器面積最大可達(dá)25*25mm。
LaserCheck系列光斑分析儀不僅能實(shí)時(shí)顯示激光2D/3D圖像，導(dǎo)出光強(qiáng)分布數(shù)據(jù)，且提供激光束參數(shù)實(shí)時(shí)演示和分析能力，具體測(cè)量的參數(shù)包括：光束直徑、光斑的形狀、位置、功率、強(qiáng)度分布、橢圓度等眾多參數(shù)，同時(shí)還提供了報(bào)表功能，記錄光束分析設(shè)置和可實(shí)現(xiàn)激光光斑質(zhì)量檢測(cè)、光斑大小、光斑點(diǎn)穩(wěn)定性、一維、二維、三維能量分布等多參數(shù)測(cè)量，純中文操作界面，直觀友好，功能非常強(qiáng)大，目前已得到了廣大科研和工業(yè)客戶的一致認(rèn)可。為了滿足各客戶特殊需求，我司還為客戶提供定制的光束質(zhì)量分析和一體化設(shè)計(jì)解決方案，如焦點(diǎn)分析儀、近場分析儀，且配套各類衰減方案和擴(kuò)束、縮束模組，滿足客戶測(cè)量上百W功率和不同大小光斑大小的測(cè)試要求。
規(guī)格參數(shù)
| 型號(hào) | BLC-SWIR-9070 |
| 感光面 | InGaAs |
| 波長范圍 | 900-1700nm |
| 感光?積 | 9.6mm*7.68mm |
| 可測(cè)尺? | 150um-7.68mm |
| 像素大小 | 15um |
| 分辨率 | 640x512 |
| 位深 | 12bit |
| 幀數(shù) | 30 |
| 曝光時(shí)間 | us 到 1s |
| 增益 | 58dB |
| 觸發(fā) | |
| 飽和強(qiáng)度 | 0.2 μW/cm2 |
| 靈敏度 | |
| 工作溫度 | 0-50℃ |
| 尺寸 | |
| 相機(jī)?作模式 | CMOS 全局快門 |
| 電腦接? | USB |
配套衰減器(最高功率可測(cè)量>1000W)
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