產(chǎn)品介紹

BeamPeek™ 系統(tǒng)可進(jìn)行實(shí)時(shí)光束輪廓分析，包括焦點(diǎn)尺寸和位置監(jiān)控，以及綠光和近紅外范圍內(nèi)增材制造 (AM) 激光器的光束焦散和功率測(cè)量。它跟蹤這些參數(shù)隨時(shí)間的變化，以幫助維護(hù)制造部件的質(zhì)量和可重復(fù)性。BeamPeek™ 集成了激光光束輪廓儀相機(jī)、功率計(jì)、光束收集器、光束分束器和光學(xué)器件，為工業(yè)環(huán)境中的增材制造激光分析提供全包解決方案。

BeamPeek™ 軟件專為滿足增材制造行業(yè)現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)人員的需求而開(kāi)發(fā)。它可以用最少的用戶輸入測(cè)量增材制造的基本參數(shù)。

BeamPeek 可在 1kW 功率下進(jìn)行長(zhǎng)達(dá) 2 分鐘的連續(xù)測(cè)量，并采用被動(dòng)冷卻，無(wú)需風(fēng)扇或通過(guò)可互換光束收集盒進(jìn)行水/空氣冷卻。其工業(yè)設(shè)計(jì)使其易于集成到生產(chǎn)線中并進(jìn)行激光特性分析，而不會(huì)干擾生產(chǎn)過(guò)程。

產(chǎn)品參數(shù)

產(chǎn)品名稱 ： BeamPeek

光譜范圍 ： 532 nm, 1030-1080 nm

最小光斑尺寸 ： 34.5 µm

功率范圍 ： 10-1000 W

焦距 ： 150-800 mm

功率計(jì)校準(zhǔn) ： NIST traceable calibration ±3%

光束輪廓 ： ISO 11146 Measurements

CE 符合性 ： Yes

UKCA 符合性 ： Yes

中國(guó) RoHS 符合性 ： Yes

軟件

BeamPeek

BeamPeek 軟件旨在滿足增材制造領(lǐng)域技術(shù)人員的需求。它為增材制造行業(yè)提供符合 ISO 標(biāo)準(zhǔn)的光束焦散和功率測(cè)量的關(guān)鍵參數(shù)分析。

BeamPeek 工具

BeamPeek 溫度傳感器讀數(shù)、焦平面和光軸位置的軟件

常見(jiàn)問(wèn)題

1、相機(jī)傳感器/焦平面位于哪里?

與 BeamCheck 不同，BeamCheck 的焦平面設(shè)置使得當(dāng)激光焦點(diǎn)位于床面時(shí)，相機(jī)傳感器處于焦點(diǎn)中，而 BeamPeek 相機(jī)傳感器距離底座/機(jī)床約 70 毫米(每個(gè)設(shè)備的準(zhǔn)確值單獨(dú)校準(zhǔn))。要使光束聚焦在相機(jī)傳感器上，機(jī)床必須向下移動(dòng)校準(zhǔn)值。這種設(shè)置的原因是改進(jìn)了功率處理：更高的最大功率和更長(zhǎng)的高功率曝光時(shí)間。

2、BeamPeek 需要定期校準(zhǔn)嗎?

是的，因?yàn)?BeamPeek 包含 Ophir 常規(guī)功率計(jì)。

3、如果功率值高于或曝光時(shí)間超過(guò)允許的最大值，BeemPeek 會(huì)受到嚴(yán)重?fù)p壞嗎?我如何知道設(shè)備是否損壞?

BeamPeek 在設(shè)計(jì)時(shí)考慮到了過(guò)載、功率或曝光時(shí)間等因素;如果超出了建議值，客戶除了可以進(jìn)行功能測(cè)試外，還可以進(jìn)行簡(jiǎn)單的目視檢查：拆除光束轉(zhuǎn)儲(chǔ)托盤(pán)、檢查保護(hù)窗的清潔度(可以拆除并清除由于功率密度非常高或曝光時(shí)間過(guò)長(zhǎng)而產(chǎn)生的排氣)、拆除并檢查擴(kuò)散可互換鏡頭，并在拆除鏡頭的情況下透過(guò)系統(tǒng)光圈查看，以驗(yàn)證光學(xué)器件的完整性(以免功率過(guò)高)。

4、獲取功率測(cè)量結(jié)果的最短等待時(shí)間是多久?

對(duì)于帶有熱頭的功率計(jì)，功率測(cè)量的最短響應(yīng)時(shí)間為 3 秒。

5、如果使用 NIR 激光波長(zhǎng) 1070nm，則應(yīng)選擇哪個(gè) PM 波長(zhǎng)進(jìn)行測(cè)量 1064nm 還是 1080nm?

選擇接近激光波長(zhǎng)的波長(zhǎng)，在這種情況下 1064 比 1080 更接近。

高功率光束分析儀和功率測(cè)量系統(tǒng)BeamPeek

高功率光束分析儀和功率測(cè)量系統(tǒng)BeamPeek